準確成像, 無交叉耦合現象 業界*的XYZ軸線性度，樣品和探針分別由獨立的柔性制導掃描器控制移動 Z低的平面偏移度，全程水平掃描時平面偏移量不超過1納米 垂直掃描器全程伸縮時，線性度優于0.015% 優化的水平掃描器ringing現象, 科學的正向sine-scan算法 原子力顯微鏡

- 原子力顯微鏡（AFM）有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。 - 納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM）。 - 倒置光學顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

在同級產品中，Park XE7能夠帶來Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。